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1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Forschungszentrum Jülich GmbH
Rechtsform des Erwerbers: Von einer zentralen Regierungsbehörde kontrolliertes öffentliches Unternehmen
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: W10-42391143 TFE-SEM Mikroskop für das INW-1.
Beschreibung: TFE-SEM Mikroskop für das INW-1.
Kennung des Verfahrens: ebb7005e-50df-463f-a789-7dadd4fab018
Interne Kennung: W10-42391143
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38510000 Mikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
2.1.3.
Wert
Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5. Los
5.1.
Los: LOT-0000
Titel: W10-42391143 TFE-SEM Mikroskop für das INW-1.
Beschreibung: TFE-SEM Mikroskop für das INW-1.
Interne Kennung: W10-42391143
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38510000 Mikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Leo-Brandt-Straße
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
5.1.5.
Wert
Geschätzter Wert ohne MwSt.: 216 000,00 EUR
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
Zusätzliche Informationen: Gemäß § 39, Abs. 6, Nr. 3 VgV zählt der tatsächliche Preis zu den Informationen, die den geschäftlichen Interessen des Unternehmens schaden könnten. Daher wird in dieser Bekanntmachung lediglich der Schwellenwert angegeben.
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Beschreibung siehe oben.
Beschreibung der anzuwendenden Methode, wenn die Gewichtung nicht durch Kriterien ausgedrückt werden kann: Siehe technische Spezifikation.
Begründung, warum die Gewichtung der Zuschlagskriterien nicht angegeben wurde: Wir verweisen diesbezüglich auf § 160 GWB: (1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein. (2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Vergabekammer des Bundes
Informationen über die Überprüfungsfristen: Gemäß VgV.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die die Zahlung ausführt: Forschungszentrum Jülich GmbH
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Forschungszentrum Jülich GmbH
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 216 000,00 EUR
Direktvergabe:
Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung: Beschaffungshintergrund: Die aktuellen Forschungsarbeiten des INW umfassen mehrere material- und katalysewissenschaftlich hochrelevante Bereiche, unter anderem: 1) LOHC-Dehydrierung: Charakterisierung von Metall-Träger-Wechselwirkungen und Identifikation von Deaktivierungsmechanismen der Dehydrierungskatalysatoren. 2) CO₂-Elektroreduktion: Identifizierung aktiver Zentren, Analyse von Katalysatordesaktivierung und Rekonstruktion sowie Korrelation nanoskaliger Strukturmerkmale mit der Selektivität zu C₂⁺-Produkten. 3) NH₃-Elektroreduktion: Detektion von Stickstoff-Intermediaten, Validierung der Katalysatorstabilität und Verfolgung nanostruktureller Veränderungen unter elektrochemischer Belastung. 4) CO₂-Hydrierung: Zusammenhang zwischen Morphologie, Oxidationszustand und katalytischer Aktivität zur Entwicklung effizienterer Konversionspfade. 5.) Li-Ionen-Batterien: Untersuchung der Elektrodenzerstörung, der Bildung der festen Elektrolytgrenzfläche (SEI) sowie der nanoskaligen Li-Verteilung zur Verbesserung von Lebensdauer und Sicherheit. Für all diese Forschungsfelder ist eine präzise Analyse der Mikro- und Nanostruktur der untersuchten Materialien unverzichtbar. Dazu gehören hochauflösende Abbildungen, zuverlässige chemische Analysen sowie Untersuchungen unter variablen Druckbedingungen, um nichtleitende oder empfindliche Proben möglichst artefaktfrei zu charakterisieren. Die derzeit am INW verfügbaren bildgebenden Systeme reichen hinsichtlich Auflösung, Probenkompatibilität, Low-Vacuum-Fähigkeiten sowie quantitativem EDX-Mapping nicht mehr aus, um die oben genannten Forschungsthemen in der erforderlichen wissenschaftlichen Tiefe zu bearbeiten. Zudem ist – im Rahmen der engen Zusammenarbeit zwischen dem Ernst-Ruska-Center (ER-C) und dem INW – geplant, die neu zu beschaffende SEM-Anlage des INW als Vorselektions- und Screening-Werkzeug für Proben einzusetzen, die anschließend am hochaufgelösten SU9600-HITACHI-Mikroskop des ER-C untersucht werden. Dieses Gerät stellt ein einzigartiges Deep-Sub-Nanometer-SEM dar und ist ausschließlich von Hitachi mit den entsprechenden Spezifikationen erhältlich. Durch diese klare Aufgabenverteilung wird sowohl eine optimale Auslastung des SU9600 als auch eine deutliche Reduktion von Wartezeiten und Betriebskosten erreicht. Darüber hinaus ist das zu beschaffende TFE-SEM Mikroskop für eine Vielzahl von komplementären Standardmessungen vorgesehen, die im Zuge der Synchrotron-Probenvorbereitung, der Qualitätssicherung sowie im Rahmen der allgemeinen materialwissenschaftlichen Charakterisierung regelmäßig anfallen und für die der Einsatz des SU9600 weder erforderlich noch wirtschaftlich wäre. Nachfolgende technische Anforderungen des Institutes INW-1 / ER-C-1 werden nur durch das System der Fa. Hitachi High-Tech Europe GmbH vollumfänglich erfüllt: Technische Anforderungen: 1. Hohe Auflösung zur Darstellung nanoskaliger Merkmale in heterogenen Katalysatoren, Batteriematerialien und elektrochemischen Systemen. Zur fachgerechten Untersuchung heterogener Katalysatoren, Batteriematerialien und elektrochemischer Systeme ist die Erfassung nanoskaliger Oberflächen- und Substratstrukturen zwingend erforderlich. Nur ein SEM mit hochauflösender Feldemissionsquelle ermöglicht die Darstellung feiner morphologischer Details, die für Forschungs- und Entwicklungsarbeiten notwendig sind und mit konventionellen Systemen nicht zugänglich wären. 2. Variabler-Druck-Betriebsmodus zur Untersuchung nichtleitender und empfindlicher Proben ohne Beschichtung. Um nichtleitende, hygroskopische oder bestrahlungssensitive Proben ohne zusätzliche Präparation (z. B. leitfähige Beschichtung) untersuchen zu können, ist ein Betrieb im variablen Druck- bzw. Niedervakuum-Modus erforderlich. Dadurch werden Präparationsartefakte verhindert, Probenverluste reduziert und die Analyse von Proben ermöglicht, die durch eine Beschichtung wissenschaftlich verfälscht würden. Ein solcher Betriebsmodus ist daher für den regulären Institutsbetrieb unverzichtbar. 3. Vakuumtransfer- bzw. Inert-Gas-Transfer-Option, um luft- oder feuchtigkeitsempfindliche Proben artefaktarm zu überführen. Bei der Untersuchung von Materialien, die gegenüber Sauerstoff oder Wasserdampf instabil oder empfindlich sind, ist ein geschlossener Transferprozess zwingend erforderlich. Ein geeignetes Vakuum- bzw. Inertgas-Transfersystem verhindert Oberflächenreaktionen während des Transfers und gewährleistet eine artefaktfreie Charakterisierung. Ohne diese Option wären viele relevante Probenarten am Institut nicht oder nur eingeschränkt analysierbar. 4. Leistungsfähige, schnelle EDX-Analyse mit stabiler quantitativer Elementkartierung. Für eine umfassende materialspezifische Bewertung ist eine verlässliche und schnelle energiedispersive Röntgenspektroskopie erforderlich. Die Möglichkeit der quantitativen Elementkartierung erlaubt eine eindeutige Zuordnung chemischer Heterogenitäten, die für die Interpretation der funktionalen Eigenschaften unserer Materialien von zentraler Bedeutung ist. Eine solche Analytik ist somit zwingender Bestandteil der vorgesehenen Anlage. 5. Hohe Kompatibilität und methodische Anschlussfähigkeit zum SU9600 HITACHI, um konsistente Datenqualität und nahtlose Workflow-Integration zwischen INW und ER-C sicherzustellen. Zur Sicherstellung durchgängiger Datenqualität und eines einheitlichen Mess- und Dokumentationsstandards zwischen INW und ER-C ist eine technische Kompatibilität zum bestehenden SU9600-Hitachi-System erforderlich. Ein vergleichbarer Detektoraufbau, konsistente Bedienlogik und kompatible Datenausgabeformate gewährleisten einen nahtlosen Transfer von Proben und Messstrategien sowie eine effiziente gemeinsame Nutzung der Infrastruktur. Aus technischen Gründen kommt daher nur das System der Fa. Hitachi High-Tech Europe GmbH in Betracht.
6.1.
Ergebnis, Los-– Kennung: LOT-0000
Status der Preisträgerauswahl: Es wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner:
Offizielle Bezeichnung: Hitachi High-Tech Europe GmbH
Angebot:
Kennung des Angebots: NTSB-1225-INW-1
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen: LOT-0000
Wert des Angebots: 216 000,00 EUR
Das Angebot wurde in die Rangfolge eingeordnet: ja
Rangfolge des Angebots: 1
Bei dem Angebot handelt es sich um eine Variante: nein
Vergabe von Unteraufträgen: Nein
Informationen zum Auftrag:
Kennung des Auftrags: W10-42391143
Titel: W10-42391143 TFE-SEM Mikroskop für das INW-1.
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Forschungszentrum Jülich GmbH
6.1.4.
Statistische Informationen
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge:
Art der eingegangenen Einreichungen: Angebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge: 1
8. Organisationen
8.1.
ORG-0000
Offizielle Bezeichnung: Forschungszentrum Jülich GmbH
Registrierungsnummer: 992-03005FZJ-26
Postanschrift: Wilhelm-Johnen -Str.
Stadt: Jülich
Postleitzahl: 52428
Land, Gliederung (NUTS): Düren (DEA26)
Land: Deutschland
Telefon: +492461612358
Fax: +492461618041
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird
Organisation, die die Zahlung ausführt
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Vergabekammer des Bundes
Registrierungsnummer: t:0228/9499-0
Postanschrift: Villemombler Str 176
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53123
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +4922894990
Fax: +492289499163
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnung: Hitachi High-Tech Europe GmbH
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Mittleres Unternehmen
Registrierungsnummer: HRB7877
Postanschrift: Europark Fichtenhain A12
Stadt: Krefeld
Postleitzahl: 47807
Land, Gliederung (NUTS): Krefeld, Kreisfreie Stadt (DEA14)
Land: Deutschland
Telefon: +49-2151-643-50
Fax: +49-2151-643-5696
Rollen dieser Organisation:
Bieter
Gewinner dieser Lose: LOT-0000
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
10. Änderung
Fassung der zu ändernden vorigen Bekanntmachung: 954c22b3-03c7-4051-b941-fe37dd4e4865-01
Hauptgrund für die Änderung: Aktualisierte Informationen
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 1abec350-0afd-494d-bfa4-8784e9adf866 - 01
Formulartyp: Ergebnis
Art der Bekanntmachung: Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung: 29
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 20/02/2026 12:59:24 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 126096-2026
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 37/2026
Datum der Veröffentlichung: 23/02/2026