268100-2023 - ErgebnisDeutschland-Jena: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
OJ S 88/2023 05/05/2023
Bekanntmachung vergebener Aufträge
Lieferungen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU

Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber

I.1.
Name und Adressen
Offizielle Bezeichnung: Friedrich-Schiller-Universität Jena
Postanschrift: Fürstengraben 1
Ort: Jena
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Postleitzahl: 07743
Land: Deutschland
E-Mail: vergabestelle@uni-jena.de
Telefon: +49 3641-9412220
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: https://www.uni-jena.de/
I.4.
Art des öffentlichen Auftraggebers
Einrichtung des öffentlichen Rechts
I.5.
Haupttätigkeit(en)
Bildung

Abschnitt II: Gegenstand

II.1.
Umfang der Beschaffung
II.1.1.
Bezeichnung des Auftrags
EU-OV/2023-41
Referenznummer der Bekanntmachung: Rasterelektronenmikroskop
II.1.2.
CPV-Code Hauptteil
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
II.1.3.
Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4.
Kurze Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für das Jena Center for Soft Matter (JCSM) und das Institut für Makromolekulare Chemie und Organische Chemie (IOMC) den Kauf eines High Vacuum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops zur Untersuchung von polymeren Proben, selbstheilenden Materialien, polymeren Nanopartikeln und Materialien aus der Batterieforschung. Das Gerät soll explizit die vorhandenen Infrastruktur erweitern. Im JCSM steht bereits ein FE-Rasterelektronenmikroskop mit „variable pressure-Option“, EDX-Einheit und einem Probenheiztisch von RT bis 300 °C zur Verfügung. Das zu beschaffende Gerät soll diese Infrastruktur, insbesondere im Hinblick für die Untersuchung der unter 1. genannten Probensysteme, sinnvoll erweitern. Eine Dopplung des Zubehörs (VP, EDX und Heizhalter) wird nicht angestrebt.
1. Einsatzgebiete / Hauptaufgabenstellungen
- Untersuchung von weichen Proben Systemen auf Polymerbasis (Soft Matter)
- Hydrogele
- Analyse von Nanopartikeln
- Selbstheilende Materialien
- Untersuchung von Probensystemen aus dem Bereich der Batterieforschung
- Untersuchung von Proben bei tiefen Temperaturen
II.1.6.
Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.1.7.
Gesamtwert der Beschaffung
Wert ohne MwSt.: 336 500,00 EUR
II.2.
Beschreibung
II.2.2.
Weitere(r) CPV-Code(s)
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
II.2.3.
Erfüllungsort
NUTS-Code: DEG03 Jena, Kreisfreie Stadt
Hauptort der Ausführung: Friedrich-Schiller-Universität Jena, CEEC Jena II und AWZ CEEC Jena, Lessingstraße 12-14, 07743 Jena
II.2.4.
Beschreibung der Beschaffung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für das Jena Center for Soft Matter (JCSM) und das Institut für Makromolekulare Chemie und Organische Chemie (IOMC) den Kauf eines High Vacuum Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops zur Untersuchung von polymeren Proben, selbstheilenden Materialien, polymeren Nanopartikeln und Materialien aus der Batterieforschung. Das Gerät soll explizit die vorhandenen Infrastruktur erweitern. Im JCSM steht bereits ein FE-Rasterelektronenmikroskop mit „variable pressure-Option“, EDX-Einheit und einem Probenheiztisch von RT bis 300 °C zur Verfügung. Das zu beschaffende Gerät soll diese Infrastruktur, insbesondere im Hinblick für die Untersuchung der unter 1. genannten Probensysteme, sinnvoll erweitern. Eine Dopplung des Zubehörs (VP, EDX und Heizhalter) wird nicht angestrebt.
1. Einsatzgebiete / Hauptaufgabenstellungen
- Untersuchung von weichen Proben Systemen auf Polymerbasis (Soft Matter)
- Hydrogele
- Analyse von Nanopartikeln
- Selbstheilende Materialien
- Untersuchung von Probensystemen aus dem Bereich der Batterieforschung
- Untersuchung von Proben bei tiefen Temperaturen
II.2.5.
Zuschlagskriterien
Qualitätskriterium - Name: Bewertung der Wunschkriterien / Gewichtung: 70
Preis - Gewichtung: 30
II.2.11.
Angaben zu Optionen
Optionen: nein
II.2.13.
Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm, das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14.
Zusätzliche Angaben

Abschnitt IV: Verfahren

IV.1.
Beschreibung
IV.1.1.
Verfahrensart
Offenes Verfahren
IV.1.3.
Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen Beschaffungssystem
IV.1.8.
Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
IV.2.
Verwaltungsangaben
IV.2.1.
Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
Bekanntmachungsnummer im ABl.: 2023/S 056-165291
IV.2.8.
Angaben zur Beendigung des dynamischen Beschaffungssystems
IV.2.9.
Angaben zur Beendigung des Aufrufs zum Wettbewerb in Form einer Vorinformation

Abschnitt V: Auftragsvergabe

Auftrags-Nr.: Rasterelektronenmikroskop
Bezeichnung des Auftrags:
EU-OV/2023-41
Ein Auftrag/Los wurde vergeben: ja
V.2.
Auftragsvergabe
V.2.1.
Tag des Vertragsabschlusses
02/05/2023
V.2.2.
Angaben zu den Angeboten
Anzahl der eingegangenen Angebote: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von KMU: 1
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus anderen EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der eingegangenen Angebote von Bietern aus Nicht-EU-Mitgliedstaaten: 0
Anzahl der elektronisch eingegangenen Angebote: 1
Der Auftrag wurde an einen Zusammenschluss aus Wirtschaftsteilnehmern vergeben: nein
V.2.3.
Name und Anschrift des Wirtschaftsteilnehmers, zu dessen Gunsten der Zuschlag erteilt wurde
Offizielle Bezeichnung: FEI Deutschland GmbH
Ort: Dreieich
NUTS-Code: DE71C Offenbach, Landkreis
Land: Deutschland
Der Auftragnehmer ist ein KMU: ja
V.2.4.
Angaben zum Wert des Auftrags/Loses
Ursprünglich veranschlagter Gesamtwert des Auftrags/des Loses: 336 500,00 EUR
Gesamtwert des Auftrags/Loses: 336 100,00 EUR
V.2.5.
Angaben zur Vergabe von Unteraufträgen

Abschnitt VI: Weitere Angaben

VI.3.
Zusätzliche Angaben
VI.4.
Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1.
Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Offizielle Bezeichnung: Thüringer Landesverwaltungsamt - Vergabekammer
Postanschrift: Jorge-Semprún-Platz 4
Ort: Weimar
Postleitzahl: 99423
Land: Deutschland
VI.4.3.
Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Rügen der Bieter, in welchen diese einen Verstoß gegen die Vorschriften im
Vergabeverfahren vortragen, sind ausnahmslos (schriftlich oder per E-Mail) an
die Vergabestelle zu richten. Hilft die Vergabestelle der Rüge nicht ab, wird mit
Eingang des entsprechenden Antwortschreibens der Vergabestelle, eine Frist von
15 Kalendertagen in Gang gesetzt (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB), innerhalb derer der
Bieter einen etwaigen Nachprüfungsantrag bei der Vergabekammer einreichen
kann.
VI.5.
Tag der Absendung dieser Bekanntmachung
02/05/2023