Beschreibung der Beschaffung
1. Focused-Ion-Beam System:
— Ga-Flüssigmetall Ionenquelle,
— Vergrößerungsbereich: 200-fach bis 300 000-fach,
— Beschleunigungsspannung 1-30 kV,
— Stahlstrommessung und Einstellung,
— motorgesteuerte Wechselblende,
— Garantierte Auflösung im einstelligem nm Bereich.
2. Probenstage:
— Vollmotorisiert,
— Spezialisiert für Bulkproben,
— Freie Bewegung entlang aller Raumkoordinaten (x,y,z) sowie Rotation und kippen der Probe muss möglich sein,
— Probenkammerbeleuchtung.
3. Software Anforderungen:
— Funktionen zur 2D und 3D Bildaufnahme mit Helligkeits- und Kontrasteinstellungen,
— Funktion zur TEM Lamellapreparation,
— Milling Funktion in einstellbarer Geschwindigkeit,
— Analysemöglichkeit zur Korngrößenverteilung.
4. Weitere Spezifikationen:
— Probenschleuse,
— System zur Messung des Probenstroms,
— Pneumatisch ein- und ausfahrbares Gaseinlassystem (GIS),
— Schwingungsgedämpft.
Sonstige Mindestanforderungen
— Software mit automatischer Funktion zur TEM Lamellen Präparation
Eine Automatische Präparation auch mehrerer TEM-Lamellen ohne Aufsicht und Präparation von Proben mit unebener Oberfläche erforderlich
— Ex-situ Liftout System
Gripper Liftout-System zum einfachen, sicheren und schnellen Transfer von vorgeschnitten TEM-Lamellen auf TEM-Gittern
— Integration am INP
Installation und Inbetriebnahme des Systems beim INP mit entsprechender Laborabnahme und anschließendem Training vor Ort sind erforderlich
— PC mit Windows 10, Monitor und Standarteingabegeräten
Ausschlusskriterien:
— Die Möglichkeit zur automatisierten TEM Lamellen Präparation ist zwingend zu erfüllen.