1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Empa zentraler Einkauf
Rechtsform des Erwerbers: Einrichtung des öffentlichen Rechts
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron Microscope
Beschreibung: The two instruments shall warrant a smooth workflow for TEM sample preparation by FIB and state-of-the-art sample characterization by analytical, high-resolution TEM/STEM, particularly, but not exclusively. A broad spectrum of materials science samples shall be addressed, including highly fragile and beam-sensitive samples such as, e.g., Li-based thin-film battery materials, carbon-based nanomaterials or zeolites for catalytic applications. Energy dispersive X-ray (EDX) analytics is required on both instruments, special acquisition modes in STEM are desirable, namely 4D-STEM in combination with the TEM camera, and a segmented detector for differential phase contrast STEM. Besides TEM sample preparation, the FIB instrument shall be employed for 3D imaging by consecutively ion-beam milling and imaging. To warrant smooth and efficient operation of these multi-user instruments, an important aspect lies on automatic or semi-automatic routines, particularly concerning materials processing by FIB.
Kennung des Verfahrens: a58903b5-3ccb-49ec-b2a8-60a78eba9df2
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Das Verfahren wird beschleunigt: nein
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511000 Elektronenmikroskope
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
2.1.6.
Ausschlussgründe
Quellen der Ausschlussgründe: Bekanntmachung
Der Zahlungsunfähigkeit vergleichbare Lage gemäß nationaler Rechtsvorschriften: Further details in the official publication on simap.ch
5. Los
5.1.
Los: LOT-0000
Titel: FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron Microscope
Beschreibung: The two instruments shall warrant a smooth workflow for TEM sample preparation by FIB and state-of-the-art sample characterization by analytical, high-resolution TEM/STEM, particularly, but not exclusively. A broad spectrum of materials science samples shall be addressed, including highly fragile and beam-sensitive samples such as, e.g., Li-based thin-film battery materials, carbon-based nanomaterials or zeolites for catalytic applications. Energy dispersive X-ray (EDX) analytics is required on both instruments, special acquisition modes in STEM are desirable, namely 4D-STEM in combination with the TEM camera, and a segmented detector for differential phase contrast STEM. Besides TEM sample preparation, the FIB instrument shall be employed for 3D imaging by consecutively ion-beam milling and imaging. To warrant smooth and efficient operation of these multi-user instruments, an important aspect lies on automatic or semi-automatic routines, particularly concerning materials processing by FIB.
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511000 Elektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung (cpv): 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
5.1.2.
Erfüllungsort
Stadt: Dübendorf
Postleitzahl: 8600
Land, Gliederung (NUTS): Zürich (CH040)
Land: Schweiz
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Andere Laufzeit: Unbekannt
5.1.4.
Verlängerung
Maximale Verlängerungen: 0
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Vorbehaltene Teilnahme:
Teilnahme ist nicht vorbehalten.
Die Namen und beruflichen Qualifikationen des zur Auftragsausführung eingesetzten Personals sind anzugeben: Noch nicht bekannt
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.9.
Eignungskriterien
Quellen der Eignungskriterien: Auftragsunterlagen
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Award criteria
Beschreibung der anzuwendenden Methode, wenn die Gewichtung nicht durch Kriterien ausgedrückt werden kann: The award criteria are defined in the documentation.
5.1.11.
Auftragsunterlagen
Zugang zu bestimmten Auftragsunterlagen ist beschränkt
Ad-hoc-Kommunikationskanal:
Name: Simap.ch
5.1.12.
Bedingungen für die Auftragsvergabe
Bedingungen für die Einreichung:
Elektronische Einreichung: Zulässig
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden können: Englisch, Deutsch
Elektronischer Katalog: Nicht zulässig
Varianten: Nicht zulässig
Die Bieter können mehrere Angebote einreichen: Nicht zulässig
Frist für den Eingang der Angebote: 10/08/2025 23:59:00 (UTC+02:00) Osteuropäische Zeit, Mitteleuropäische Sommerzeit
Dauer, während der das Angebot gültig bleiben muss: 180 Tage
Auftragsbedingungen:
Die Auftragsausführung muss im Rahmen von Programmen für geschützte Beschäftigungsverhältnisse erfolgen: Noch nicht bekannt
Bedingungen für die Ausführung des Auftrags: Further details in the official publication on simap.ch
Elektronische Rechnungsstellung: Erforderlich
Aufträge werden elektronisch erteilt: nein
Zahlungen werden elektronisch geleistet: ja
Finanzielle Vereinbarung: Further details in the official publication on simap.ch
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Tribunal administrativ federal
Informationen über die Überprüfungsfristen: Instructions on legal remedies In accordance with Article 56 paragraph 1 of the Public Procurement Act (PPA), a written appeal against this decision can be lodged with the Federal Administrative Court, P.O. Box, 9023 St. Gallen, Switzerland, within 20 days of notification. Any appeal is to be submitted in duplicate and must include what is being sought, the grounds for appeal, evidence and the signature of the person lodging the appeal or his or her representative. A copy of this decision and available evidence must be included. The provisions of the Administrative Procedure Act (APA) on legal holidays do not apply in accordance with Article 56 paragraph 2 of the PPA.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Empa zentraler Einkauf
8. Organisationen
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Empa zentraler Einkauf
Registrierungsnummer: c3a1f91f-fb22-4c7e-ab7d-ecba1fd8a7f4
Postanschrift: Überlandstrasse 129
Stadt: Dübendorf
Postleitzahl: 8600
Land, Gliederung (NUTS): Zürich (CH040)
Land: Schweiz
Telefon: +41587656167
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnung: Tribunal administrativ federal
Registrierungsnummer: BVGER
Postanschrift: Postfach
Stadt: St. Gallen
Postleitzahl: 9023
Land, Gliederung (NUTS): St. Gallen (CH055)
Land: Schweiz
Telefon: +41584652626
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Simap.ch
Registrierungsnummer: CH001
Postanschrift: Holzikofenweg 36
Stadt: Bern
Postleitzahl: 3003
Land, Gliederung (NUTS): Bern / Berne (CH021)
Land: Schweiz
Telefon: +41584646388
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: 4652968f-922c-450c-b7dc-c2193f75c6f8 - 01
Formulartyp: Wettbewerb
Art der Bekanntmachung: Auftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung: 16
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 19/06/2025 02:26:00 (UTC+02:00) Osteuropäische Zeit, Mitteleuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Englisch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 401149-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 117/2025
Datum der Veröffentlichung: 20/06/2025