1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle Bezeichnung: Universität Hamburg
Rechtsform des Erwerbers: Von einer regionalen Gebietskörperschaft kontrollierte Einrichtung des öffentlichen Rechts
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers: Bildung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel: Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs
Beschreibung: Im Zentrum dieses Verfahrens steht die Entwicklung einer innovativen Plattform zur rasterkraftmikroskopischen Analyse biologischer Proben auf molekularer und zellulärer Ebene, sowohl unter Standard-Biosicherheitsbedingungen (S2) als auch unter hohen Sicherheitsauflagen (S3). Ziel ist es, dynamische Prozesse wie Protein-Protein-Interaktionen, Zell-Zell-Adhäsion, Rezeptorbindung oder die mechanische Entfaltung von Molekülen in realitätsnahen Umgebungen zu untersuchen – also ohne Fixierung, Dehydrierung oder Kryokonservierung. Die gewonnenen Daten sollen helfen, grundlegende biophysikalische Mechanismen z. B. bei Infektionsprozessen, Antibiotikainteraktionen oder Membranmodifikationen zu verstehen. Durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit korrelativer Fluoreszenzbildgebung wird eine Brücke zwischen Struktur, Dynamik und Funktion geschlagen. Die neuartige Konfiguration erlaubt es dabei erstmals, solche Experimente unter S3-Bedingungen durchzuführen, was weltweit einzigartig ist. Die Universität Hamburg verfolgt mit dieser Infrastruktur das Ziel, eine führende Rolle im Bereich hochsicherheitskompatibler Einzelmolekül-Mikroskopie einzunehmen. Die Geräte werden durch kooperierende Gruppen innerhalb des CSSB (Centre for Structural Systems Biology) betrieben und genutzt. Gegenstand dieses Verfahrens ist die Lieferung und Installation spezieller Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen Rasterkraftmikroskopsystemen (AFMs), basierend auf einer bestehenden JPK NanoWizard-Plattform (Bruker). Ziel ist der parallele Einsatz eines Systems im S3-Labor und eines Systems im S2-Labor am CSSB, im Wesentlichen bestehend aus: ▪ 1. Erweiterung zum Aufbau und Installation eines Wide-Range-AFM-Systems (S3-Labor), ▪ 2. Erweiterung zum Aufbau und Installation eines High-Speed-AFM-Systems (S2-Labor), ▪ 3. Ergänzung durch eine geschlossene Messkammer (S2-kompatibel).
Kennung des Verfahrens: 8aa6b846-9993-44b1-b545-2da96d979026
Interne Kennung: UHH_2025050_VVfoTnW
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
2.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Notkestraße 85
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 22607
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage:
Richtlinie 2014/24/EU
vgv - GWB, VgV, Hamburgisches Vergabegesetz
5. Los
5.1.
Los: LOT-0001
Titel: Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs
Beschreibung: Im Zentrum dieses Verfahrens steht die Entwicklung einer innovativen Plattform zur rasterkraftmikroskopischen Analyse biologischer Proben auf molekularer und zellulärer Ebene, sowohl unter Standard-Biosicherheitsbedingungen (S2) als auch unter hohen Sicherheitsauflagen (S3). Ziel ist es, dynamische Prozesse wie Protein-Protein-Interaktionen, Zell-Zell-Adhäsion, Rezeptorbindung oder die mechanische Entfaltung von Molekülen in realitätsnahen Umgebungen zu untersuchen – also ohne Fixierung, Dehydrierung oder Kryokonservierung. Die gewonnenen Daten sollen helfen, grundlegende biophysikalische Mechanismen z. B. bei Infektionsprozessen, Antibiotikainteraktionen oder Membranmodifikationen zu verstehen. Durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM) mit korrelativer Fluoreszenzbildgebung wird eine Brücke zwischen Struktur, Dynamik und Funktion geschlagen. Die neuartige Konfiguration erlaubt es dabei erstmals, solche Experimente unter S3-Bedingungen durchzuführen, was weltweit einzigartig ist. Die Universität Hamburg verfolgt mit dieser Infrastruktur das Ziel, eine führende Rolle im Bereich hochsicherheitskompatibler Einzelmolekül-Mikroskopie einzunehmen. Die Geräte werden durch kooperierende Gruppen innerhalb des CSSB (Centre for Structural Systems Biology) betrieben und genutzt. Gegenstand dieses Verfahrens ist die Lieferung und Installation spezieller Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen Rasterkraftmikroskopsystemen (AFMs), basierend auf einer bestehenden JPK NanoWizard-Plattform (Bruker). Ziel ist der parallele Einsatz eines Systems im S3-Labor und eines Systems im S2-Labor am CSSB, im Wesentlichen bestehend aus: ▪ 1. Erweiterung zum Aufbau und Installation eines Wide-Range-AFM-Systems (S3-Labor), ▪ 2. Erweiterung zum Aufbau und Installation eines High-Speed-AFM-Systems (S2-Labor), ▪ 3. Ergänzung durch eine geschlossene Messkammer (S2-kompatibel).
Interne Kennung: UHH_2025050_VVfoTnW
5.1.1.
Zweck
Art des Auftrags: Lieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Optionen:
Beschreibung der Optionen: Keine Verlängerungsoption. Mit dem Angebot bzw. Beauftragung sind alle Leistungen abgedeckt.
5.1.2.
Erfüllungsort
Postanschrift: Notkestraße 85
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 22607
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Datum des Beginns: 25/08/2025
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen: ja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen Auftragsvergabe: Keine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium:
Art: Qualität
Beschreibung: Unter Berücksichtigung der technischen Anforderungen ist ausschließlich das zu erwerbende Gerät für die geplante Erweiterung für die Universität Hamburg geeignet.
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung:
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem:
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
Überprüfungsstelle: Finanzbehörde Hamburg
Informationen über die Überprüfungsfristen: Es wird auf § 160 Abs. 3 GWB hingewiesen. Ein Antrag ist demnach unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, 2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Organisation, die Informationen über den allgemeinen, am Ort der Ausführung des Auftrags geltenden steuerrechtlichen Rahmen bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt: Universität Hamburg
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird: Universität Hamburg
Organisation, die die Zahlung ausführt: Universität Hamburg
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet: Universität Hamburg
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge: 400 000,00 EUR
Direktvergabe:
Begründung der Direktvergabe: Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung: Die Erweiterung basiert auf der modularen Plattform JPK NanoWizard (Bruker) – aktuell die einzige AFM-Technologie weltweit, die folgende Kombination anbietet : 🔹 S3-Tauglichkeit durch individuelle Anpassung • Entwicklung und Integration einer geschlossenen, begasbaren Messkammer (kompatibel mit H₂O₂-Dekontamination) • Materialauswahl, Dichtigkeit und Reinigbarkeit entsprechend S3-Anforderungen • Bereitschaft zur Abstimmung mit S3-Sicherheitsbeauftragten vor Ort 🔹 Zwei spezialisierte, kompatible Erweiterungen auf identischer Plattform • Erweiterung 1: Wide-Range-AFM-System für Zellanalytik mit großem Scanbereich und einfacher Integration in ein bestehendes Fluoreszenzmikroskop • Erweiterung 2: High-Speed-AFM-System für Einzelmolekülmessungen mit Fast-Scanning-Funktion, gekoppelt an ein hochauflösendes, extern finanziertes Fluoreszenzmikroskop • Beide Erweiterungen verwenden identische Steuer- und Auslesesoftware, was Trainings-, Austausch- und Parallelbetrieb ermöglicht Kein anderes AFM-System auf erfüllt derzeit die technische Kombination aus S3-Zulassung (einschließlich Begasungstauglichkeit), Fast-Scanning und Wide-Range-Optionen auf gemeinsamer Plattform und anpassbarer geschlossener Messzelle (S2) inkl. dokumentierter Kompatibilität mit korrelativer Fluoreszenzmikroskopie. Die geforderten Spezifikationen können im Gesamtkontext nach einer umfangreichen Marktrecherche ausschließlich in der benötigten Kombination ausschließlich vom beabsichtigten und ursprünglichen Auftragnehmer erbracht werden. Die Auftragsvergabe erfolgt somit gem. § 14 Abs. 4 Nr. 2, 5 VgV, da aus dieser beschriebenen Darstellung technische Gründe vorliegen, die keinen Wettbewerb ermöglichen, bzw. kein Wettbewerb vorhanden ist.
8. Organisationen
8.1.
ORG-0001
Offizielle Bezeichnung: Universität Hamburg
Registrierungsnummer: DE245584140
Abteilung: Referat Einkauf und Dienstreisen - Strategischer Einkauf
Postanschrift: Mittelweg 177
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 20148
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
Kontaktperson: Strategischer Einkauf
Telefon: 040428386143
Rollen dieser Organisation:
Beschaffer
Zentrale Beschaffungsstelle, die öffentliche Aufträge oder Rahmenvereinbarungen im Zusammenhang mit für andere Beschaffer bestimmten Bauleistungen, Lieferungen oder Dienstleistungen vergibt/abschließt
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
Organisation, die einen Offline-Zugang zu den Vergabeunterlagen bereitstellt
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
Organisation, die Informationen über den allgemeinen, am Ort der Ausführung des Auftrags geltenden steuerrechtlichen Rahmen bereitstellt
Organisation, die den Auftrag unterzeichnet
Organisation, aus deren Mitteln der Auftrag bezahlt wird
Organisation, die die Zahlung ausführt
8.1.
ORG-0003
Offizielle Bezeichnung: Bruker Nano GmbH
Größe des Wirtschaftsteilnehmers: Großunternehmen
Registrierungsnummer: DE200443246
Postanschrift: Am Studio 2D
Stadt: Berlin
Postleitzahl: 12489
Land, Gliederung (NUTS): Berlin (DE300)
Land: Deutschland
Telefon: 000
Rollen dieser Organisation:
Bieter
8.1.
ORG-0004
Offizielle Bezeichnung: Finanzbehörde Hamburg
Registrierungsnummer: fc2a82a7-8962-48a4-bf78-45738e80fa10
Abteilung: Vergabekammer - Rechts- und Abgabenabteilung
Stadt: Hamburg
Postleitzahl: 20306
Land, Gliederung (NUTS): Hamburg (DE600)
Land: Deutschland
Telefon: +49 40428231690
Rollen dieser Organisation:
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-0005
Offizielle Bezeichnung: Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer: 0204:994-DOEVD-83
Stadt: Bonn
Postleitzahl: 53119
Land, Gliederung (NUTS): Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
Land: Deutschland
Telefon: +49228996100
Rollen dieser Organisation:
TED eSender
Kennung/Fassung der Bekanntmachung: e344326f-ce6d-4bf6-aaab-174841af9772 - 01
Formulartyp: Vorankündigung – Direktvergabe
Art der Bekanntmachung: Freiwillige Ex-ante-Transparenzbekanntmachung
Unterart der Bekanntmachung: 25
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung: 14/08/2025 08:43:26 (UTC+02:00) Osteuropäische Zeit, Mitteleuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist: Deutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung: 536820-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe: 156/2025
Datum der Veröffentlichung: 18/08/2025