691131-2023 - Wettbewerb
Deutschland – Laser – MemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool
OJ S 219/2023 14/11/2023
Auftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Lieferleistungen
1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle BezeichnungMemLog GmbH
E-Mailtheresa.welskop@mazars.de
Rechtsform des ErwerbersVon einer zentralen Regierungsbehörde kontrolliertes öffentliches Unternehmen
Tätigkeit des öffentlichen AuftraggebersWirtschaftliche Angelegenheiten
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
TitelMemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool
BeschreibungDas SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden
Kennung des Verfahrensccb8171e-062d-4f00-80e2-ccad2d86477d
VerfahrensartOffenes Verfahren
2.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38636100 Laser
2.1.2.
Erfüllungsort
PostanschriftMemLog GmbH: SEM_FIB_TOF_SIMS Tool  
Land, Gliederung (NUTS)Leipzig, Kreisfreie Stadt (DED51)
LandDeutschland
Ort im betreffenden Land
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Zusätzliche InformationenBekanntmachungs-ID: CXP4YWLHYFG
Rechtsgrundlage
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
2.1.6.
Ausschlussgründe
Der Zahlungsunfähigkeit vergleichbare Lage gemäß nationaler RechtsvorschriftenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
KonkursZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
KorruptionZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
VergleichsverfahrenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Beteiligung an einer kriminellen VereinigungZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Vereinbarungen mit anderen Wirtschaftsteilnehmern zur Verzerrung des WettbewerbsZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen umweltrechtliche VerpflichtungenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Geldwäsche oder TerrorismusfinanzierungZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
BetrugsbekämpfungZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Kinderarbeit und andere Formen des MenschenhandelsZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
ZahlungsunfähigkeitZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen arbeitsrechtliche VerpflichtungenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verwaltung der Vermögenswerte durch einen InsolvenzverwalterZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Falsche Angaben, verweigerte Informationen, die nicht in der Lage sind, die erforderlichen Unterlagen vorzulegen, und haben vertrauliche Informationen über dieses Verfahren erhalten.Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Interessenkonflikt aufgrund seiner Teilnahme an dem VergabeverfahrenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Direkte oder indirekte Beteiligung an der Vorbereitung des VergabeverfahrensZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Schwere Verfehlung im Rahmen der beruflichen TätigkeitZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Vorzeitige Beendigung, Schadensersatz oder andere vergleichbare SanktionenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Verstoß gegen sozialrechtliche VerpflichtungenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Zahlung der SozialversicherungsbeiträgeZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Einstellung der gewerblichen TätigkeitZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Entrichtung von SteuernZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
Terroristische Straftaten oder Straftaten im Zusammenhang mit terroristischen AktivitätenZwingende bzw. fakultative Ausschlussgründe nach §§ 123 bis 126 GWB
5. Los
5.1.
LosLOT-0001
TitelMemLog GmbH: SEM_FIB_TOF-SIMS Tool
BeschreibungDas SEM_FIB_TOF-SIMS Tool erlaubt alle hergestellten Schichten und Strukturen hinsichtlich ihrer Abmessungen und chemischer Zusammensetzung umfassend zu charakterisieren. Die Methoden Scanning Electron Microscopy (SEM) und Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM ) ermöglichen laterale Auflösungen bis unter 1 nm, so dass selbst die kleinsten Strukturen abgebildet werden können. Die im Gerät vorhandene Focused Ion Beam (FIB)-Technik wird für die Querschnittspräparation eingesetzt, so dass eine 3-dimensionale Strukturabbildung ermöglich wird und Lamellen für STEM präpariert werden können. Die chemische Zusammensetzung der Schichten und Strukturen kann mit den ebenfalls vorhandenen Methoden Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX) und (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy (TOF-SIMS) bestimmt werden. EDX und TOF-SIMS ergänzen sich hervorragend bei der Analytik, wobei EDX vorrangig für die quantitative chemische Analyse gebraucht wird und TOF-SIMS den Nachweis von chemischen Verbindungen bis hin zu äußerst geringen Konzentrationen erlaubt. Das SEM_FIB_TOF-SIMS Tool kann so auch zur Partikel- und physikalischen Fehleranalyse an fertig prozessierten Schichtsystemen und Strukturen eingesetzt werden
Interne Kennung#1
5.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38636100 Laser
5.1.2.
Erfüllungsort
PostanschriftMemLog GmbH: SEM_FIB_TOF_SIMS Tool  
Land, Gliederung (NUTS)Leipzig, Kreisfreie Stadt (DED51)
LandDeutschland
Ort im betreffenden Land
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesennein
Diese Auftragsvergabe ist auch für kleine und mittlere Unternehmen (KMU) geeignetnein
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen AuftragsvergabeKeine strategische Beschaffung
5.1.9.
Eignungskriterien
Kriterium
ArtTechnische und berufliche Leistungsfähigkeit
Beschreibung des Eignungskriteriums- Eigenerklärung zur Eignung - mind. 3 Referenzen über die Lieferung eines vergleichbaren Tools zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten aus den letzten drei Geschäftsjahren. - Angaben/Nachweise zur Qualitätssicherung im jeweiligen Unternehmen (QM-Zertifizierung DIN EN ISO 9001 oder vergleichbar, internes QM-Handbuch mit entsprechenden Anforderungen, o.ä.) - Angaben / Nachweise zum Umweltmanagement im jeweiligen Unternehmen (Zertifizierung nach ISO 14001 oder vergleichbar) - Angaben / Nachweis zum Arbeits- und Gesundheitsschutzmanagement (Zertifizierung nach ISO 45001 oder vergleichbar) - Service- und Wartungsvertrag/Servicekonzept
5.1.11.
Auftragsunterlagen
Sprachen, in denen die Auftragsunterlagen offiziell verfügbar sindDeutsch
Internetadresse der Auftragsunterlagenhttps://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG/documents
Ad-hoc-Kommunikationskanal
URLhttps://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG
5.1.12.
Bedingungen für die Auftragsvergabe
Bedingungen für die Einreichung
Elektronische EinreichungErforderlich
Adresse für die Einreichunghttps://www.dtvp.de/Satellite/notice/CXP4YWLHYFG
Sprachen, in denen Angebote oder Teilnahmeanträge eingereicht werden könnenDeutsch
Elektronischer KatalogNicht zulässig
VariantenNicht zulässig
Die Bieter können mehrere Angebote einreichenZulässig
Frist für den Eingang der Angebote15/12/2023 23:55:00 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Informationen, die nach Ablauf der Einreichungsfrist ergänzt werden können
Nach Ermessen des Käufers können alle fehlenden Bieterunterlagen nach Fristablauf nachgereicht werden.
Zusätzliche InformationenNach dem Ermessen des Käufers können alle fehlenden Unterlagen nach Fristablauf nachgefordert werden.
Informationen über die öffentliche Angebotsöffnung
Eröffnungstermin16/12/2023 10:00:00 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Eröffnungstermin16/12/2023 10:00:00 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Auftragsbedingungen
Die Auftragsausführung muss im Rahmen von Programmen für geschützte Beschäftigungsverhältnisse erfolgenNoch nicht bekannt
Bedingungen für die Ausführung des Auftrags- Eigenerklärung zur Eignung - mind. 3 Referenzen über die Lieferung eines vergleichbaren Tools zur Materialanalytik oberflächennaher Schichten aus den letzten drei Geschäftsjahren. - Angaben/Nachweise zur Qualitätssicherung im jeweiligen Unternehmen (QM-Zertifizierung DIN EN ISO 9001 oder vergleichbar, internes QM-Handbuch mit entsprechenden Anforderungen, o.ä.) - Angaben / Nachweise zum Umweltmanagement im jeweiligen Unternehmen (Zertifizierung nach ISO 14001 oder vergleichbar) - Angaben / Nachweis zum Arbeits- und Gesundheitsschutzmanagement (Zertifizierung nach ISO 45001 oder vergleichbar)
Elektronische RechnungsstellungErforderlich
Aufträge werden elektronisch erteiltnein
Zahlungen werden elektronisch geleistetnein
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
ÜberprüfungsstelleVergabekammern des Bundes
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstelltMemLog GmbH
TED eSenderBeschaffungsamt des BMI
8. Organisationen
8.1.
ORG-0003
Offizielle BezeichnungBeschaffungsamt des BMI
Registrierungsnummer994-DOEVD-83
StadtBonn
Postleitzahl53119
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailesender_hub@bescha.bund.de
Telefon+49228996100
Rollen dieser Organisation
TED eSender
8.1.
ORG-0001
Offizielle BezeichnungMemLog GmbH
RegistrierungsnummerHRB41732
Postanschrift10557
StadtLeipzig
Postleitzahl04109
Land, Gliederung (NUTS)Leipzig, Kreisfreie Stadt (DED51)
LandDeutschland
E-Mailtheresa.welskop@mazars.de
Telefon+491703770939
Rollen dieser Organisation
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0002
Offizielle BezeichnungVergabekammern des Bundes
RegistrierungsnummerHRB41732
PostanschriftVillemombler Straße 76
StadtBonn
Postleitzahl53123
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailvk@bundeskartellamt.bund.de
Telefon0228 9499-0
Rollen dieser Organisation
Überprüfungsstelle
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachung73128142-ee59-47ab-a78c-8f99c0263f13  -  01
FormulartypWettbewerb
Art der BekanntmachungAuftrags- oder Konzessionsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung16
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung13/11/2023 12:42:00 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar istDeutsch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung691131-2023
ABl. S – Nummer der Ausgabe219/2023
Datum der Veröffentlichung14/11/2023