752886-2025 - Ergebnis
Deutschland – Optische Mikroskope – Thermo reflectance microscope (IMWS-01.1) - PR1017819-2690-P
OJ S 219/2025 13/11/2025
Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Lieferleistungen
1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Rechtsform des ErwerbersÖffentliches Unternehmen
Tätigkeit des öffentlichen AuftraggebersAllgemeine öffentliche Verwaltung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
TitelThermo reflectance microscope (IMWS-01.1) - PR1017819-2690-P
BeschreibungThermo reflectance microscope (IMWS-01.1)
Kennung des Verfahrensa4518f83-57b5-40ed-b4f4-e2b0abbeb782
Interne KennungPR1017819-2690-P
VerfahrensartOffenes Verfahren
Das Verfahren wird beschleunigtnein
2.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38634000 Optische Mikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
StadtHalle
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Zusätzliche Informationenhttps://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-197ea954c9e-3c04808d78f76e09
Rechtsgrundlage
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5. Los
5.1.
LosLOT-0000
TitelThermo reflectance microscope (IMWS-01.1) - PR1017819-2690-P
BeschreibungDas Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Einsatzverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Das Geschäftsfeld "Elektronische Werkstoffe und Bauteile" des Fraunhofer IMWS unterstützt Partner aus Industrie und Wissenschaft mit seiner international anerkannten Expertise in der Fehleranalyse elektronischer Bauteile. Das Fraunhofer IMWS wird seine Fähigkeiten zur fortschrittlichen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um die Einführung neuer heterogener Integrationstechnologien zu unterstützen, die sich den Herausforderungen der Herstellung und Zuverlässigkeit stellen. Der Arbeitsablauf bei der Fehleranalyse beginnt mit der präzisen und zuverlässigen Lokalisierung von fehlerbedingten Abweichungen, die für die Fehlerlokalisierung erforderlich sind. Mit zunehmendem Integrationsgrad führen Funktionalität und Leistungssteigerung jedoch zu abnehmenden Merkmalsdimensionen, zur Ausdehnung in den dritten räumlichen Bereich und damit zu einer erheblichen Steigerung der Gesamtkomplexität. Die Fehlerlokalisierung für mikroelektronische High-End-Komponenten und -Systeme muss eine hohe Empfindlichkeit für verschiedene Kontrastmechanismen in Kombination mit mikroskopischer Empfindlichkeit und Auflösungsvermögen bieten. Während Defekte in elektronischen Schaltkreisen mit strukturellen Veränderungen einhergehen können und daher passiv inspiziert werden können, eröffnen defektbezogene anormale Emissionen die Möglichkeit der Identifizierung und Lokalisierung der fehlerhaften Stelle oder Struktur. Elektrische Defekte können von der Emission von Photonen in einem breiten Spektralband begleitet sein. In diesem Sinne haben thermische Emissionen das größte Potenzial, da sie sich durch undurchsichtige Materialien ausbreiten können und eine Erkennung durch ausreichend empfindliche Detektionsverfahren ermöglichen. In diesem Zusammenhang stellt die Thermoreflexionsmikroskopie eine leistungsstarke Technik dar, da die Anwendung von Prüfwellenlängen im optischen Bereich zur Analyse temperaturbedingter Reflektivitätsänderungen auf der Probenoberfläche eingesetzt wird. Während Defekte in elektronischen Schaltkreisen mit strukturellen Veränderungen einhergehen können und daher passiv inspiziert werden können, eröffnen defektbezogene anormale Emissionen die Möglichkeit der Identifizierung und Lokalisierung der fehlerhaften Stelle oder Struktur. Elektrische Defekte können von der Emission von Photonen in einem breiten Spektralband begleitet sein. In diesem Sinne haben thermische Emissionen das größte Potenzial, da sie sich durch undurchsichtige Materialien ausbreiten können und eine Erkennung durch ausreichend empfindliche Detektionsverfahren ermöglichen. Optionen: 1.1.5. Allgemeine Gerätespezifikationen "Das System sollte die folgenden thermischen Charakterisierungsverfahren umfassen: - Die Software muss die quantitative Extraktion lokaler thermischer Eigenschaften (z. B. Wärmeleitfähigkeit, Diffusivität, Grenzflächenwiderstand) aus gemessenen Transienten ermöglichen. " 1.1.6. Allgemeine Gerätespezifikationen "Das System sollte die folgenden thermischen Charakterisierungstechniken umfassen: - Fähigkeit zu absoluten Temperaturmessungen " 1.1.7. Allgemeine Gerätespezifikationen "Das System sollte die folgenden thermischen Charakterisierungstechniken umfassen: - Messung und Analyse der transienten Wärmeausbreitung". 1.2.4. Mikroskopkonfiguration und Tische "Der motorisierte Tisch sollte einen - inkrementelle Auslösung bei Bewegung in X. - ROI-Scanning mit Triggerausgang für X- und Y-Inkremente ermöglichen." 1.2.6. 1.2.6. Mikroskopkonfiguration und -tische Das Gerät sollte eine schwingungsisolierte Plattform enthalten oder darauf montiert sein, die für hochpräzise mikroskopische Messungen geeignet ist. 1.2.8. Mikroskop-Konfiguration und -Stufen Das Gerät sollte optional die Prüfung von bis zu 8-Zoll-Wafern ermöglichen. 1.3.3. 1.3.3. Optische Pfade und Messung Pump- und Sondenstrahlen sollten so angeordnet sein, dass der Sondenpunkt relativ zum Pumpspot verschoben werden kann, was eine Analyse der lateralen Wärmeausbreitung ermöglicht. 1.3.6. Optische Pfade und Messung "Dieses Mikroskop sollte außerdem folgende Merkmale aufweisen: - einen Revolverkopf, der Objektive mit unterschiedlicher Vergrößerung aufnehmen kann" 1.3.8. Optische Pfade und Messung Vollfeld-Thermoref
Interne KennungLOT-0000
5.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38634000 Optische Mikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
StadtHalle
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Laufzeit6 Monate
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt ganz oder teilweise aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesenja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen AuftragsvergabeKeine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium
ArtQualität
BezeichnungTechnische Ausführung
BeschreibungTechnische Ausführung
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl65
Kriterium
ArtPreis
BezeichnungPreis
BeschreibungPreis
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl35
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
ÜberprüfungsstelleVergabekammern des Bundes
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen VerträgeNicht veröffentlicht 
BegründungscodeDienstleistungen im Bereich Forschung und Entwicklung (FuE)
6.1.
Ergebnis, Los-– KennungLOT-0000
Status der PreisträgerauswahlEs wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner
Offizielle BezeichnungHitech BV
Angebot
Kennung des AngebotsTEN-0001
Kennung des Loses oder der Gruppe von LosenLOT-0000
Wert des AngebotsNicht veröffentlicht
BegründungscodeDienstleistungen im Bereich Forschung und Entwicklung (FuE)
Vergabe von UnteraufträgenNein
Informationen zum Auftrag
Kennung des AuftragsCON-0001
Datum des Vertragsabschlusses11/11/2025
6.1.4.
Statistische Informationen
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge2
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote auf elektronischem Wege eingereicht
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge2
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Kleinst-, kleinen oder mittleren Unternehmen
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge1
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bietern, die in anderen Ländern des Europäischen Wirtschaftsraums registriert sind als dem Land des Beschaffers
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bieter aus Ländern außerhalb des Europäischen Wirtschaftsraums
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
8. Organisationen
8.1.
ORG-7001
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
RegistrierungsnummerDE 129515865
PostanschriftHansastraße 27c
StadtMünchen
Postleitzahl80686
Land, Gliederung (NUTS)München, Kreisfreie Stadt (DE212)
LandDeutschland
KontaktpersonEinkauf Betrieb und Infrastruktur
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Telefon+49891205-0
Internetadressehttps://vergabe.fraunhofer.de/
Profil des Erwerbershttps://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/
Rollen dieser Organisation
Beschaffer
Zentrale Beschaffungsstelle, die öffentliche Aufträge oder Rahmenvereinbarungen im Zusammenhang mit für andere Beschaffer bestimmten Bauleistungen, Lieferungen oder Dienstleistungen vergibt/abschließt
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-7004
Offizielle BezeichnungVergabekammern des Bundes
Registrierungsnummert:022894990
PostanschriftKaiser-Friedrich-Straße 16
StadtBonn
Postleitzahl53113
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailvk@bundeskartellamt.bund.de
Telefon+49 228 9499-0
Rollen dieser Organisation
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-7005
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
RegistrierungsnummerDE-129515865
PostanschriftHansastraße 27c
StadtMünchen
Postleitzahl80686
Land, Gliederung (NUTS)München, Kreisfreie Stadt (DE212)
LandDeutschland
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Telefon+49 89 1205-0
Internetadressehttps://www.fraunhofer.de
Rollen dieser Organisation
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0001
Offizielle BezeichnungHitech BV
Größe des WirtschaftsteilnehmersKleines Unternehmen
RegistrierungsnummerNL 006025584B01
PostanschriftKwekerijweg 2a
StadtZeist
Postleitzahl3709 JA
Land, Gliederung (NUTS)Utrecht (NL350)
LandNiederlande
E-Maildirk.faber@hitechbv.nl
Telefon+31 303074420
Rollen dieser Organisation
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer
Gewinner dieser LoseLOT-0000
8.1.
ORG-7006
Offizielle BezeichnungDatenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer0204:994-DOEVD-83
StadtBonn
Postleitzahl53119
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailnoreply.esender_hub@bescha.bund.de
Telefon+49228996100
Rollen dieser Organisation
TED eSender
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachungf18a356c-6e9b-4f3b-8ff8-e01e298f6d1f  -  01
FormulartypErgebnis
Art der BekanntmachungBekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung29
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung12/11/2025 14:45:28 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar istDeutschEnglisch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung752886-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe219/2025
Datum der Veröffentlichung13/11/2025