812312-2025 - Ergebnis
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
OJ S 236/2025 08/12/2025
Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Lieferleistungen
1. Beschaffer
1.1.
Beschaffer
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Rechtsform des ErwerbersÖffentliches Unternehmen
Tätigkeit des öffentlichen AuftraggebersAllgemeine öffentliche Verwaltung
2. Verfahren
2.1.
Verfahren
Titel3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Beschreibung3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 )
Kennung des Verfahrens6ac00ae5-0c9c-4407-b883-2638f9aede96
Interne KennungPR876527-2690-P
VerfahrensartVerhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Das Verfahren wird beschleunigtnein
2.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung (cpv): 38512100 Ionenmikroskope
2.1.2.
Erfüllungsort
StadtHalle
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
2.1.4.
Allgemeine Informationen
Rechtsgrundlage
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -
5. Los
5.1.
LosLOT-0001
TitelLos 1: 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1)
BeschreibungDas Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise in der Fehleranalyse elektronischer Komponenten. Das Fraunhofer IMWS wird seine Fähigkeiten in der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um die Entwicklung neuer heterogener Integrationstechnologien zu unterstützen und so die Herausforderungen in Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Das Fraunhofer IMWS verfügt über umfassende Erfahrung in der Anwendung und Entwicklung zerstörungsfreier thermischer Defektlokalisierungsverfahren für die Fehleranalyse, insbesondere bei Halbleitern für die Automobilelektronik, wo präzise zerstörungsfreie Prüfungen unerlässlich sind. Dank seiner langjährigen Erfahrung in der Entwicklung von Lock-in-Thermografieverfahren (LIT) und der Entwicklung fortschrittlicher Methoden zur Signalverarbeitung hat das Fraunhofer IMWS die Grenzen der LIT-Technologie kontinuierlich erweitert, um Auflösung und Empfindlichkeit zu verbessern, insbesondere für 2,5D-/3D-Bildgebung und moderne Verpackungsanwendungen. Um die Fehlerlokalisierungsmöglichkeiten bei 3D-Bauelementen und IC-Stacks weiter zu verbessern, ist die Integration eines kombinierten Lock-In-Thermografie- (LIT) und OBIRCH-Messsystems (Optical Beam Induced Resistance Change) geplant. Dies ermöglicht eine präzise Fehlerlokalisierung von Defekten mit thermischer Emission und zusätzlich die Lokalisierung von Fehlern ohne ausreichende thermische Emission, aber mit elektrischer Empfindlichkeit während einer optischen Anregung. Das System soll für die Entwicklung eigener Anwendungen zur erweiterten Signalverarbeitung der Messwerte offen sein, um die Empfindlichkeit und Auflösung bei 3D- und gestapelten Bauelementen zu verbessern. Diese Ausschreibung umfasst die Lieferung eines kombinierten LIT- und OBIRCH-Messsystems, einschließlich optionaler Funktionen, Software-Support, Dokumentation, Lieferung, Abnahmeprüfung und Garantie.
Interne KennungLOT-0001
5.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung (cpv): 38512100 Ionenmikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
StadtHalle
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Laufzeit14 Monate
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt ganz oder teilweise aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesenja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen AuftragsvergabeKeine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium
ArtQualität
Bezeichnungtechnische Anforderungen
Beschreibungtechnische Anforderungen
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl65
Kriterium
ArtPreis
BezeichnungPreis
BeschreibungPreis
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl35
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
ÜberprüfungsstelleVergabekammern des Bundes
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
5.1.
LosLOT-0002
TitelLos 2: SEM Scanning Electron Microscope (IMWS-3.1)
BeschreibungDas Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise in der Fehleranalyse elektronischer Komponenten. Das Fraunhofer IMWS wird seine Fähigkeiten in der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung erweitern, um die Entwicklung neuer heterogener Integrationstechnologien zu unterstützen und so die Herausforderungen in Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Das Elektronenstrahl-Prober-System wird für die elektrische Fehlerisolierung moderner integrierter Schaltungen (unter 20 nm-Knoten) benötigt, ähnlich wie laserbasierte Prüfverfahren mit hochfrequenter aktiver Spannungskontrastdetektion mit nm-Auflösung. Die Hauptanwendung ist die Prüfung elektrischer Signale auf Transistorebene und das Auslesen logischer Zustände in IC-Strukturen und flüchtigen Speicherarrays, um Funktionsfehler zu identifizieren und Belastbarkeitstests gesicherter IC-Funktionen durchzuführen. Ein komplettes funktionsfähiges Elektronenstrahl-Prober-System soll inklusive Montage, Inbetriebnahme und allen notwendigen Anschlüssen, Teilen und Zulassungen/Zertifizierungen für den Betrieb angeboten werden. Die Komponenten und spezifischen Anforderungen sind unten aufgeführt.
Interne KennungLOT-0002
5.1.1.
Zweck
Art des AuftragsLieferleistungen
Haupteinstufung (cpv): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung (cpv): 38512100 Ionenmikroskope
5.1.2.
Erfüllungsort
StadtHalle
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
5.1.3.
Geschätzte Dauer
Laufzeit13 Monate
5.1.6.
Allgemeine Informationen
Auftragsvergabeprojekt ganz oder teilweise aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesenja
5.1.7.
Strategische Auftragsvergabe
Ziel der strategischen AuftragsvergabeKeine strategische Beschaffung
5.1.10.
Zuschlagskriterien
Kriterium
ArtQualität
Bezeichnungtechnische Anforderungen
Beschreibungtechnische Anforderungen
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl65
Kriterium
ArtPreis
BezeichnungPreis
BeschreibungPreis
Kategorie des Gewicht-ZuschlagskriteriumsGewichtung (Prozentanteil, genau)
Zuschlagskriterium — Zahl35
5.1.15.
Techniken
Rahmenvereinbarung
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem
Kein dynamisches Beschaffungssystem
5.1.16.
Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung
ÜberprüfungsstelleVergabekammern des Bundes
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstelltFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
6. Ergebnisse
Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen VerträgeNicht veröffentlicht 
BegründungscodeDienstleistungen im Bereich Forschung und Entwicklung (FuE)
6.1.
Ergebnis, Los-– KennungLOT-0001
Status der PreisträgerauswahlEs wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner
Offizielle BezeichnungHamamatsu Photonics Deutschland GmbH
Angebot
Kennung des AngebotsTEN-0001
Kennung des Loses oder der Gruppe von LosenLOT-0001
Wert des AngebotsNicht veröffentlicht
BegründungscodeDienstleistungen im Bereich Forschung und Entwicklung (FuE)
Vergabe von UnteraufträgenNein
Informationen zum Auftrag
Kennung des AuftragsCON-0001
Datum des Vertragsabschlusses27/11/2025
6.1.4.
Statistische Informationen
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge3
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote auf elektronischem Wege eingereicht
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge3
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Kleinst-, kleinen oder mittleren Unternehmen
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge2
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bietern, die in anderen Ländern des Europäischen Wirtschaftsraums registriert sind als dem Land des Beschaffers
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bieter aus Ländern außerhalb des Europäischen Wirtschaftsraums
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
6.1.
Ergebnis, Los-– KennungLOT-0002
Status der PreisträgerauswahlEs wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.
6.1.2.
Informationen über die Gewinner
Wettbewerbsgewinner
Offizielle Bezeichnungpoint electronic GmbH
Angebot
Kennung des AngebotsTEN-0002
Kennung des Loses oder der Gruppe von LosenLOT-0002
Wert des AngebotsNicht veröffentlicht
BegründungscodeDienstleistungen im Bereich Forschung und Entwicklung (FuE)
Vergabe von UnteraufträgenNein
Informationen zum Auftrag
Kennung des AuftragsCON-0002
Datum des Vertragsabschlusses27/11/2025
6.1.4.
Statistische Informationen
Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge3
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote auf elektronischem Wege eingereicht
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge3
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Kleinst-, kleinen oder mittleren Unternehmen
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge2
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bietern, die in anderen Ländern des Europäischen Wirtschaftsraums registriert sind als dem Land des Beschaffers
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
Art der eingegangenen EinreichungenAngebote von Bieter aus Ländern außerhalb des Europäischen Wirtschaftsraums
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge0
8. Organisationen
8.1.
ORG-7001
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
RegistrierungsnummerDE 129515865
PostanschriftHansastraße 27c
StadtMünchen
Postleitzahl80686
Land, Gliederung (NUTS)München, Kreisfreie Stadt (DE212)
LandDeutschland
KontaktpersonEinkauf Betrieb und Infrastruktur
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Telefon+49891205-0
Internetadressehttps://vergabe.fraunhofer.de/
Profil des Erwerbershttps://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/
Rollen dieser Organisation
Beschaffer
Zentrale Beschaffungsstelle, die öffentliche Aufträge oder Rahmenvereinbarungen im Zusammenhang mit für andere Beschaffer bestimmten Bauleistungen, Lieferungen oder Dienstleistungen vergibt/abschließt
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-7004
Offizielle BezeichnungVergabekammern des Bundes
Registrierungsnummert:022894990
PostanschriftKaiser-Friedrich-Straße 16
StadtBonn
Postleitzahl53113
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailvk@bundeskartellamt.bund.de
Telefon+49 228 9499-0
Rollen dieser Organisation
Überprüfungsstelle
8.1.
ORG-7005
Offizielle BezeichnungFraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
RegistrierungsnummerDE-129515865
PostanschriftHansastraße 27c
StadtMünchen
Postleitzahl80686
Land, Gliederung (NUTS)München, Kreisfreie Stadt (DE212)
LandDeutschland
E-Maileinkauf@zv.fraunhofer.de
Telefon+49 89 1205-0
Internetadressehttps://www.fraunhofer.de
Rollen dieser Organisation
Organisation, die weitere Informationen für die Nachprüfungsverfahren bereitstellt
8.1.
ORG-0001
Offizielle BezeichnungHamamatsu Photonics Deutschland GmbH
Größe des WirtschaftsteilnehmersMittleres Unternehmen
RegistrierungsnummerDE 128 228 814
PostanschriftArzbergerstr. 10
StadtHerrsching
Postleitzahl82211
Land, Gliederung (NUTS)Starnberg (DE21L)
LandDeutschland
E-Mailanne.reiner@hamamatsu.eu
Telefon08152375216
Rollen dieser Organisation
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer
Gewinner dieser LoseLOT-0001
8.1.
ORG-0002
Offizielle Bezeichnungpoint electronic GmbH
Größe des WirtschaftsteilnehmersKleines Unternehmen
RegistrierungsnummerDE153719985
PostanschriftErich-Neuss-Weg 15
StadtHalle (Saale)
Postleitzahl06120
Land, Gliederung (NUTS)Halle (Saale), Kreisfreie Stadt (DEE02)
LandDeutschland
E-Mailinfo@pointelectronic.de
Telefon03451201190
Rollen dieser Organisation
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer
Gewinner dieser LoseLOT-0002
8.1.
ORG-7006
Offizielle BezeichnungDatenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer0204:994-DOEVD-83
StadtBonn
Postleitzahl53119
Land, Gliederung (NUTS)Bonn, Kreisfreie Stadt (DEA22)
LandDeutschland
E-Mailnoreply.esender_hub@bescha.bund.de
Telefon+49228996100
Rollen dieser Organisation
TED eSender
Informationen zur Bekanntmachung
Kennung/Fassung der Bekanntmachunga4014900-78bb-46c1-9dc4-6f47bcc021f3  -  01
FormulartypErgebnis
Art der BekanntmachungBekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Unterart der Bekanntmachung29
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung04/12/2025 18:30:06 (UTC+01:00) Mitteleuropäische Zeit, Westeuropäische Sommerzeit
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar istDeutschEnglisch
Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung812312-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe236/2025
Datum der Veröffentlichung08/12/2025