not-val eo-int -1 ten-val-low eo-int ten-val-hig eo-int RES-0001 -1 -1 selec-w TEN-0001 tenders 1 t-esubm 1 t-sme 1 t-med 1 t-small 0 t-micro 0 t-oth-eea 1 t-no-eea 0 CON-0001 false false LOT-0001 TEN-0001 false 35045.00 no TPA-0001 LOT-0001 1 CON-0001 2025-09-12+02:00 2025-09-12+02:00 DIGITAL SURF 1 TEN-0001 TPA-0001 ORG-0003 29 https://www.hs-merseburg.de/ ORG-0001 Hochschule Merseburg Körperschaft des Öffentlichen Rechts Eberhard-Leibnitz-Straße 2 Merseburg 06217 DEE0B DEU DE152802590 abante Rechtsanwaltsgesellschaft mbH & Co. KG +49 34123820300 vergabeverfahren@abante.de ORG-0002 Landesverwaltungsamt - 1. und 2. Vergabekammer Halle (Saale) 06112 DEE02 DEU t:03455141536 +49 3455141529 vergabekammer@lvwa.sachsen-anhalt.de false UBO-0001 http://www.digitalsurf.com medium ORG-0003 DIGITAL SURF 16, rue Lavoisier BESANCON 25000 FRC21 FRA Nicht einschlägig +33 3 81 50 48 00 sales@digitalsurf.fr ORG-0004Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)Bonn53119DEA22DEU0204:994-DOEVD-83+49228996100noreply.esender_hub@bescha.bund.de UBO-0001 FRA 00665183-2025195/20252025-10-10+02:00 2.3 eforms-sdk-1.13 eforms-sdk-1.13 986e1e67-c71d-4ddc-8792-c29264c7f3e6 e7a4ddbd-ec50-45d4-ac95-0ff2f567e0a2 2025-10-09+02:00 12:37:59+02:00 01 2025-10-09+02:00 32014L0024 can-standard DEU body-pl-ra education ORG-0001 ted-esenORG-0004 false no-eu-funds vgv Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Auf die Rügepflicht des § 160 Abs. 3 GWB wird hingewiesen. Hiernach ist ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer zulässig, soweit: - der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - nicht mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. ORG-0002 open false false 302/25 Korrelativer 3D-Profiler für die KI-basierte Prozessentwicklung, Fachlos 5: Software für Datenauswertung und Korrelation Leistungsbeschreibung zur Vergabe im Rahmen des Förderprojekts "Korrelativer 3D-Profiler für die KI-basierte Prozessentwicklung" Im Rahmen des Vorhabens sollen neben drei lichtoptischen Messgeräten, auch Computertechnik, Software und schwingungsdämpfende Tische beschafft werden. Das Weißlichtinterferometersystem (Fachlos 1) und das konfokale Laserscanningmikroskop (Fachlos 2) werden als Komplettsystem ausgeschrieben. Die technischen Anforderungen an das Weitfeldmikroskop (Fachlos 3) können nach intensiver Markterkundung nur durch einen Eigenbau der Arbeitsgruppe "Physik und Angewandte Lasertechnik" erfüllt werden, was eine Aufteilung in Teillose notwendig macht. Übersicht der Lose: Fachlos 1: 3D-Weißlichtinterferometersystem Fachlos 2: Konfokales 3D-Laserscanning-Mikroskop Fachlos 3: Weitfeldmikroskop -Teillos 1: Hochauflösendes Infrarotkamerasystem -Teillos 2: Probenpositioniersystem -Teillos 3: Ansteuersoftware Fachlos 4: Optische Tische -Teillos 1: Pneumatisch-schwingungsisolierter optischer Tisch -Teillos 2: Aktiv-schwingungsisolierter optischer Tisch Fachlos 5: Software für Datenauswertung und Korrelation Fachlos 6: Auswerteserver supplies #Bekanntmachungs-ID: CXP4Y0M5VPX# 45000.00 48460000 Merseburg DEE0B DEU LOT-0001 false false no-eu-funds false per-exa 100.0 price Preis Es entfallen 100 % der Angebotswertung auf den angebotenen Preis. Der Bieter muss das Preisblatt (Anlage D.2) vollständig ausgefüllt zusammen mit seinem Angebot einreichen. ORG-0001 Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Auf die Rügepflicht des § 160 Abs. 3 GWB wird hingewiesen. Hiernach ist ein Nachprüfungsantrag bei der zuständigen Vergabekammer zulässig, soweit: - der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - nicht mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. ORG-0002 false false none none 302/25 Korrelativer 3D-Profiler für die KI-basierte Prozessentwicklung, Fachlos 5: Software für Datenauswertung und Korrelation Fachlos 5: Analyse und Korrelationssoftware (CPV: 48460000-0) Zur Analyse und Zusammenführung der Daten verschiedener Messverfahren wird eine plattformunabhängige Auswertesoftware benötigt. Es wird eine Lizenz benötigt, die auf einem geeigneten Computer installiert wird und auf die im lokalen Netzwerk von mehreren Computern zugegriffen werden kann, wobei nur ein Zugriff zur gleichen Zeit gewährleistet werden muss. Der Funktionsumfang der Software muss folgenden Mindestanforderungen genügen: - Korrelative Analyse multipler Techniken - Analyse von Rauheit und Welligkeit von Profilen und Flächen - Analyse von Freiformoberflächen - Fourier und Wavelets-Analyse - Partikelanalyse - Faseranalyse - Analyse von Mikrolinsen - Konturanalyse und Konturanalyse mit CAD-Abgleich - Dickenanalyse - Korrektur, Filterung und Analyse von rastersondenmikroskopischen Messungen - Analyse von Kraft-Abstandskurven und I-V-Kurven - Korrektur, Filterung und Analyse von lichtmikroskopischen Messungen - Korrektur, Filterung und Analyse von spektroskopischen Messungen - Einfärben und 3D-Rekonstruktion von rasterelektronenmikroskopischen Messungen - Analyse der zeitabhängigen Entwicklung von Oberflächen (4D-Analyse) - 3D-Darstellung der chemischen Zusammensetzung (Chemical Cube) supplies none 48460000 Merseburg DEE0B DEU 2000-01-01Z