Opis javnega naročila
Javno naročilo zajema nabavo masne spektrometrije sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS).
Masna spektrometrija sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta (angl. Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) je oprema za površinsko analizo, s katero se izmeri masni spekter na površini trdne snovi. Spektrometer omogoča analizo elementarne sestave in molekularne strukture površin, tankih plasti in faznih mej različnih materialov (keramike, polprevodnikov, polimerov, biomaterialov, prevlek, itd). TOF-SIMS je vrhunska oprema, ki omogoča visoko masno ločljivost, visoko prostorsko ločljivost, globinsko profiliranje z dvojnim izvorom ionov, tako za prevodne kot tudi za izolacijske materiale.
Uporaba različnih ionskih izvorov omogoča takšni opremi analizo tako anorganskih kot tudi organskih materialov (uporaba klastrov) z doseganjem visokih masnih ločljivosti tudi za lažje elemente kot so dušik, vodik in kisik ter za doseganje visoke lateralne ločljivosti (<60 nm) mikroanalize in slikanja.