Fournitures - 92683-2022

21/02/2022    S36

France-Grenoble: Microscopes électroniques à balayage

2022/S 036-092683

Avis d’attribution de marché

Résultats de la procédure de marché

Fournitures

Base juridique:
Directive 2014/24/UE

Section I: Pouvoir adjudicateur

I.1)Nom et adresses
Nom officiel: CEA Grenoble
Adresse postale: 17 avenue des Martyrs
Ville: GRENOBLE CEDEX 9
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38054
Pays: France
Point(s) de contact: Camille MOREAU
Courriel: camille.moreau@cea.fr
Téléphone: +33 438785306
Adresse(s) internet:
Adresse principale: www.cea.fr
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr
I.1)Nom et adresses
Nom officiel: L’INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
Adresse postale: 46 Avenue Félix Viallet
Ville: GRENOBLE CEDEX 1
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38031
Pays: France
Courriel: marches@grenoble-inp.fr
Téléphone: +33 476574522
Adresse(s) internet:
Adresse principale: https://www.grenoble-inp.fr/
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr
I.2)Informations sur la passation conjointe de marchés
Le marché fait l'objet d'une procédure conjointe
I.4)Type de pouvoir adjudicateur
Organisme de droit public
I.5)Activité principale
Autre activité: Recherche

Section II: Objet

II.1)Étendue du marché
II.1.1)Intitulé:

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

Numéro de référence: AOO-B21-06614-CM
II.1.2)Code CPV principal
38511100 Microscopes électroniques à balayage
II.1.3)Type de marché
Fournitures
II.1.4)Description succincte:

L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).

Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.

Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.

II.1.6)Information sur les lots
Ce marché est divisé en lots: non
II.1.7)Valeur totale du marché (hors TVA)
Valeur hors TVA: 1 032 274.00 EUR
II.2)Description
II.2.3)Lieu d'exécution
Code NUTS: FRK24 Isère
Lieu principal d'exécution:

CEA Grenoble - Conditions d'accès réglementées

II.2.4)Description des prestations:

L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).

Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.

Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.

Le MEB-PFIB sera utilisé pour les applications suivantes :

- L’usinage de gros volumes de matière (de côté > 100 µm) tels que les fibres optiques, la reconstruction 3D dans différents domaines (batteries, sciences des matériaux et du vivant,...), la fabrication d’objet pour la tomographie aux rayons X.

- Le nano usinage de surface, de nano-objets, la préparation de lames minces pour l’observation en Microscopie Electronique en Transmission. Une attention toute particulière sera portée à l’utilisation des basses tensions afin de limiter les dégâts d’usinage comme l’implantation ionique, l’épaisseur de la couche amorphisée et les défauts structuraux et afin d’atteindre des épaisseurs limites de 50 nm.

- Les dépôts in-situ (Carbone, métaux) à des échelles nanométriques et en contrôlant la localisation devront être possibles avec le faisceau d’ions et le faisceau d’électrons.

L’instrument sera équipé d’un micro-manipulateur permettant la manipulation de micro et nano-objets de manière versatile. Une rotation sur l’axe du micromanipulateur est nécessaire pour effectuer des préparations dites face arrière d’objets tels que les lames minces pour le TEM.

L’équipementier proposera un dispositif de transfert pour les échantillons sensibles à l’air. Ce système devra être simple et versatile pour passer d’une boite à gants au SEM/FIB et vice et versa. La tenue au vide du système devra être de l’ordre de quelques dizaines de minutes.

La configuration proposée devra permettre l’installation ultérieure d’un système d’analyse EBSD et d’un système EDS pour des analyses 3D. De même, l’équipementier décrira les possibilités en matière de corrélation multi échelle entre la tomographie X et le MEB-PFIB.

Au préalable à l’installation, l’équipementier fera une étude détaillée de la salle d’installation de la machine, vibration, T° et rayonnement électromagnétique et nous donnera son accord par écrit sur la validité technique de la salle. Il nous fournira ses caractéristiques techniques.

L'équipement devra être livré au plus tard le 31/08/2022.

Un certain nombre de prestations supplémentaires éventuelles (PSE) sont décrites dans le dossier de consultation.

II.2.5)Critères d’attribution
Critère de qualité - Nom: Qualité et performances des colonnes ioniques et électroniques / Pondération: 10%
Critère de qualité - Nom: Qualité et performances des accessoires (SAS de transfert, GIS, micromanipulateur et évolutions futures possibles…) / Pondération: 15%
Critère de qualité - Nom: Mise en oeuvre des applications : l’offre logiciels notamment prépa TEM et 3D, ergonomie, facilité d’utilisation / Pondération: 15%
Critère de qualité - Nom: Qualité du SAV / Pondération: 5%
Prix - Pondération: 55%
II.2.11)Information sur les options
Options: non
II.2.13)Information sur les fonds de l'Union européenne
Le contrat s'inscrit dans un projet/programme financé par des fonds de l'Union européenne: non
II.2.14)Informations complémentaires

Section IV: Procédure

IV.1)Description
IV.1.1)Type de procédure
Procédure ouverte
IV.1.3)Information sur l'accord-cadre ou le système d'acquisition dynamique
IV.1.8)Information concernant l’accord sur les marchés publics (AMP)
Le marché est couvert par l'accord sur les marchés publics: oui
IV.2)Renseignements d'ordre administratif
IV.2.1)Publication antérieure relative à la présente procédure
Numéro de l'avis au JO série S: 2021/S 228-599591
IV.2.8)Informations sur l'abandon du système d'acquisition dynamique
IV.2.9)Informations sur l'abandon de la procédure d'appel à la concurrence sous la forme d'un avis de préinformation

Section V: Attribution du marché

Marché nº: 4000947847
Intitulé:

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

Un marché/lot est attribué: oui
V.2)Attribution du marché
V.2.1)Date de conclusion du marché:
07/02/2022
V.2.2)Informations sur les offres
Nombre d'offres reçues: 2
Nombre d'offres reçues de la part de soumissionnaires d'autres États membres de l'UE: 2
Nombre d'offres reçues par voie électronique: 2
Le marché a été attribué à un groupement d'opérateurs économiques: non
V.2.3)Nom et adresse du titulaire
Nom officiel: FEI FRANCE SAS
Adresse postale: 16, avenue du Québec
Ville: VILLEBON-SUR-YVETTE
Code NUTS: FR104 Essonne
Code postal: 91140
Pays: France
Le titulaire est une PME: non
V.2.4)Informations sur le montant du marché/du lot (hors TVA)
Estimation initiale du montant total du marché/du lot: 1 200 000.00 EUR
Valeur totale du marché/du lot: 1 032 274.00 EUR
V.2.5)Information sur la sous-traitance

Section VI: Renseignements complémentaires

VI.3)Informations complémentaires:
VI.4)Procédures de recours
VI.4.1)Instance chargée des procédures de recours
Nom officiel: TRIBUNAL ADMINISTRATIF DE GRENOBLE
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Ville: GRENOBLE
Code postal: 38000
Pays: France
Courriel: greffe.ta-grenoble@juradm.fr
Téléphone: +33 476429000
Fax: +33 476422269
Adresse internet: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/
VI.4.3)Introduction de recours
Précisions concernant les délais d'introduction de recours:

Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché. Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L.551-13 et suivants du Code de justice administrative. Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de deux mois à compter des mesures de publicité appropriées.

VI.4.4)Service auprès duquel des renseignements peuvent être obtenus sur l'introduction de recours
Nom officiel: GREFFE TRIBUNAL ADMINISTRATIF DE GRENOBLE
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Ville: GRENOBLE
Code postal: 38000
Pays: France
Courriel: greffe.ta-grenoble@juradm.fr
Téléphone: +33 476429000
Fax: +33 476422269
Adresse internet: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/
VI.5)Date d’envoi du présent avis:
16/02/2022