Dans le cadre de ses activités de R&D dans les domaines des micro et nanotechnologies et des Energies Nouvelles, le CEA/LETI Grenoble souhaite confier à un prestataire les prestations de caractérisation de matériaux par la technique SIMS–Secondary Ions Mass Spectrometry. Le prestataire réalisera l'analyse SIMS sur les échantillons du LETI avec des conditions expérimentales appropriées (faisceau ionique, énergie du faisceau, ...) pertinentes pour le problème analytique.
Le présent accord-cadre comprend 2 lots :
- LOT 1 la caractérisation des matériaux “II-VI” (HgCdTe, CdTe, CdZnTe.),
- LOT 2 concerne les caractérisations des autres matériaux (Si, SiGe, GaN, InGaN, AlGaN, ZnO, GaAs, InSb, InP, AlInSb,… SiO2, SiN, Si3N4,..couches métalliques.)
Concernant l'attribution des lots, il est précisé que :
• Le CEA se réserve la possibilité d’attribuer chacun des lots à des Titulaires différents.
• Chaque Titulaire ne pourra être titulaire que d’un seul lot.
• Chaque lot sera analysé séparément