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Fournitures - 590589-2021

19/11/2021    S225

France-Grenoble: Microscopes électroniques à balayage

2021/S 225-590589

Avis d’attribution de marché

Résultats de la procédure de marché

Fournitures

Base juridique:
Directive 2014/24/UE

Section I: Pouvoir adjudicateur

I.1)Nom et adresses
Nom officiel: CEA Grenoble
Adresse postale: 17 Rue des Martyrs
Ville: GRENOBLE CEDEX 9
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38054
Pays: France
Courriel: charlotte.fritsch@cea.fr
Téléphone: +33 438783158
Fax: +33 438785060
Adresse(s) internet:
Adresse principale: www.cea.fr
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr
I.1)Nom et adresses
Nom officiel: L’INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
Adresse postale: 46 Avenue Félix Viallet
Ville: GRENOBLE CEDEX 1
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38031
Pays: France
Courriel: marches@grenoble-inp.fr
Téléphone: +33 476574522
Fax: +33 476574858
Adresse(s) internet:
Adresse principale: https://www.grenoble-inp.fr/
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr
I.2)Informations sur la passation conjointe de marchés
Le marché fait l'objet d'une procédure conjointe
I.4)Type de pouvoir adjudicateur
Organisme de droit public
I.5)Activité principale
Autre activité: Recherche

Section II: Objet

II.1)Étendue du marché
II.1.1)Intitulé:

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

Numéro de référence: AOO-B21-02049-CF
II.1.2)Code CPV principal
38511100 Microscopes électroniques à balayage
II.1.3)Type de marché
Fournitures
II.1.4)Description succincte:

L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).

Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.

Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.

Les prestations de maintenance associées prennent la forme d'une tranche optionnelle.

II.1.6)Information sur les lots
Ce marché est divisé en lots: non
II.2)Description
II.2.3)Lieu d'exécution
Code NUTS: FRK24 Isère
Lieu principal d'exécution:

CEA Grenoble - Conditions d'accès réglementées

II.2.4)Description des prestations:

L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).

Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.

Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.

Le MEB-PFIB sera utilisé pour les applications suivantes :

- L’usinage de gros volumes de matière (de côté > 100 µm) tels que les fibres optiques, la reconstruction 3D dans différents domaines (batteries, sciences des matériaux et du vivant,...), la fabrication d’objet pour la tomographie aux rayons X.

- Le nano usinage de surface, de nano-objets, la préparation de lames minces pour l’observation en Microscopie Electronique en Transmission. Une attention toute particulière sera portée à l’utilisation des basses tensions afin de limiter les dégâts d’usinage comme l’implantation ionique, l’épaisseur de la couche amorphisée et les défauts structuraux et afin d’atteindre des épaisseurs limites de 50 nm.

- Les dépôts in-situ (Carbone, métaux) à des échelles nanométriques et en contrôlant la localisation devront être possibles avec le faisceau d’ions et le faisceau d’électrons.

L’instrument sera équipé d’un micro-manipulateur permettant la manipulation de micro et nano-objets de manière versatile. Une rotation sur l’axe du micromanipulateur est nécessaire pour effectuer des préparations dites face arrière d’objets tels que les lames minces pour le TEM.

L’équipementier proposera un dispositif de transfert pour les échantillons sensibles à l’air. Ce système devra être simple et versatile pour passer d’une boite à gants au SEM/FIB et vice et versa. La tenue au vide du système devra être de l’ordre de quelques dizaines de minutes.

La configuration proposée devra permettre l’installation ultérieure d’un système d’analyse EBSD et d’un système EDS pour des analyses 3D. De même, l’équipementier décrira les possibilités en matière de corrélation multi échelle entre la tomographie X et le MEB-PFIB.

Au préalable à l’installation, l’équipementier fera une étude détaillée de la salle d’installation de la machine, vibration, T° et rayonnement électromagnétique et nous donnera son accord par écrit sur la validité technique de la salle. Il nous fournira ses caractéristiques techniques.

Le marché comprendra la tranche optionnelle suivante :

- Tranche optionnelle n°1 : Maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de 5 ans à l’issue de la période de garantie contractuelle.

Un certain nombre d’options techniques sont décrites dans le dossier de consultation.

II.2.5)Critères d’attribution
Critère de qualité - Nom: Qualité et performances des colonnes ioniques et électroniques / Pondération: 15%
Critère de qualité - Nom: Qualité et performances des accessoires (SAS de transfert, GIS, micromanipulateur et évolutions futures possibles…) / Pondération: 15%
Critère de qualité - Nom: Mise en oeuvre des applications : l’offre logiciels notamment prépa TEM et 3D, ergonomie, facilité d’utilisation / Pondération: 15%
Critère de qualité - Nom: Qualité du SAV / Pondération: 5%
Critère de qualité - Nom: Délais / Pondération: 5%
Prix - Pondération: 45%
II.2.11)Information sur les options
Options: oui
Description des options:

- Tranche optionnelle n°1 : Maintenance préventive et corrective de l’équipement pendant une durée de 5 ans à l’issue de la période de garantie.

II.2.13)Information sur les fonds de l'Union européenne
Le contrat s'inscrit dans un projet/programme financé par des fonds de l'Union européenne: non
II.2.14)Informations complémentaires

Section IV: Procédure

IV.1)Description
IV.1.1)Type de procédure
Procédure ouverte
IV.1.3)Information sur l'accord-cadre ou le système d'acquisition dynamique
IV.1.8)Information concernant l’accord sur les marchés publics (AMP)
Le marché est couvert par l'accord sur les marchés publics: oui
IV.2)Renseignements d'ordre administratif
IV.2.1)Publication antérieure relative à la présente procédure
Numéro de l'avis au JO série S: 2021/S 084-214178
IV.2.8)Informations sur l'abandon du système d'acquisition dynamique
IV.2.9)Informations sur l'abandon de la procédure d'appel à la concurrence sous la forme d'un avis de préinformation

Section V: Attribution du marché

Intitulé:

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

Un marché/lot est attribué: non
V.1)Informations relatives à une non-attribution
Le marché/lot n'a pas été attribué
Autres raisons (interruption de la procédure)

Section VI: Renseignements complémentaires

VI.3)Informations complémentaires:

La présente consultation a été déclarée sans suite en application de l'article R. 2185-1 du code de la commande publique,.

Les motifs invoqués par les pouvoirs adjudicateurs sont les suivants :

- motifs fondés sur les besoins de l'acheteur (nécessaire redéfinition du besoin).

VI.4)Procédures de recours
VI.4.1)Instance chargée des procédures de recours
Nom officiel: TRIBUNAL ADMINISTRATIF DE GRENOBLE
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Ville: GRENOBLE
Code postal: 38000
Pays: France
Courriel: greffe.ta-grenoble@juradm.fr
Téléphone: +33 476429000
Fax: +33 476422269
Adresse internet: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/
VI.4.3)Introduction de recours
Précisions concernant les délais d'introduction de recours:

Le référé précontractuel peut être introduit depuis le début de la procédure de passation jusqu’à la signature du marché. Le référé contractuel peut être introduit dans les conditions des articles L.551-13 et suivants du Code de justice administrative. Le recours en contestation de la validité du marché par un tiers peut être intenté dans un délai de deux mois à compter des mesures de publicité appropriées.

VI.4.4)Service auprès duquel des renseignements peuvent être obtenus sur l'introduction de recours
Nom officiel: GREFFE TRIBUNAL ADMINISTRATIF DE GRENOBLE
Adresse postale: 2 Place de Verdun
Ville: GRENOBLE
Code postal: 38000
Pays: France
Courriel: greffe.ta-grenoble@juradm.fr
Téléphone: +33 476429000
Fax: +33 476422269
Adresse internet: http://grenoble.tribunal-administratif.fr/
VI.5)Date d’envoi du présent avis:
15/11/2021