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Fournitures - 611190-2021

30/11/2021    S232

France-Grenoble: Microscopes électroniques à balayage

2021/S 232-611190

Rectificatif

Avis d'information complémentaire ou avis rectificatif

Fournitures

(Supplément au Journal officiel de l'Union européenne, 2021/S 228-599591)

Base juridique:
Directive 2014/24/UE

Section I: Pouvoir adjudicateur/entité adjudicatrice

I.1)Nom et adresses
Nom officiel: CEA Grenoble
Adresse postale: 17 avenue des Martyrs
Ville: GRENOBLE CEDEX 9
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38054
Pays: France
Point(s) de contact: Camille MOREAU
Courriel: camille.moreau@cea.fr
Téléphone: +33 438785306
Adresse(s) internet:
Adresse principale: www.cea.fr
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr
I.1)Nom et adresses
Nom officiel: L’INSTITUT POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE
Adresse postale: 46 Avenue Félix Viallet
Ville: GRENOBLE CEDEX 1
Code NUTS: FRK24 Isère
Code postal: 38031
Pays: France
Courriel: marches@grenoble-inp.fr
Téléphone: +33 476574522
Adresse(s) internet:
Adresse principale: https://www.grenoble-inp.fr/
Adresse du profil d’acheteur: https://www.marches-publics.gouv.fr

Section II: Objet

II.1)Étendue du marché
II.1.1)Intitulé:

Fourniture d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG)

Numéro de référence: AOO-B21-06614-CM
II.1.2)Code CPV principal
38511100 Microscopes électroniques à balayage
II.1.3)Type de marché
Fournitures
II.1.4)Description succincte:

L'Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG) du CEA Grenoble en groupement avec l’Institut Polytechnique de Grenoble (Grenoble INP) souhaite faire l’acquisition d’une sonde ionique focalisée à source plasma xénon (PFIB) couplée à un microscope électronique à balayage équipé d’un canon à émission de champ (MEB-FEG).

Cet équipement sera installé sur la Plateforme de Nano Caractérisation du CEA Grenoble (PFNC). Il permettra l’usinage ionique à l’échelle micro et nanométrique avec une résolution inférieure à 15 nm et la nano-tomographie de grands volumes d’échantillons. Le MEB-FEG permettra l’imagerie électronique à haute résolution.

Cet équipement sera utilisé dans le cadre de programmes de recherche dans le domaine des Nanosciences, des Applications Micro et Nano Technologies et de la Science des Matériaux.

Section VI: Renseignements complémentaires

VI.5)Date d’envoi du présent avis:
25/11/2021
VI.6)Référence de l'avis original
Numéro de l'avis au JO série S: 2021/S 228-599591

Section VII: Modifications

VII.1)Informations à rectifier ou à ajouter
VII.1.2)Texte à rectifier dans l'avis original
Numéro de section: IV.2.2
Au lieu de:
Date: 20/12/2021
Heure locale: 16:00
Lire:
Date: 20/12/2021
Heure locale: 12:00
Numéro de section: IV.2.7
Au lieu de:
Date: 20/12/2021
Heure locale: 16:00
Lire:
Date: 20/12/2021
Heure locale: 12:00
VII.2)Autres informations complémentaires: